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ZEIT Optical Testing Equipment Lamp Reflector Shape Wafer Flatness Surface Defect Detection

Equipo de prueba óptica ZEIT Lámpara Reflector Forma Oblea Planitud Superficie Detección de defectos

  • Alta luz

    Equipo de prueba óptico de ZEIT

    ,

    Detección óptica del defecto de superficie de la llanura de la oblea del equipo de prueba de ZEIT

    ,

    Equipo de prueba óptico de la detección del defecto de superficie de la llanura de la oblea de ZEIT

  • Tamaño
    820 mm * 700 mm * 760 mm, personalizable
  • adaptable
    Disponible
  • Período de garantía
    1 año o caso por caso
  • Términos de envío
    Por el mar/el aire/el transporte multimodal, el etc
  • Lugar de origen
    Chengdu, P. R. CHINA
  • Nombre de la marca
    ZEIT
  • Certificación
    Case by case
  • Número de modelo
    S1200-150
  • Cantidad de orden mínima
    1 juego
  • Precio
    Case by case
  • Detalles de empaquetado
    caja de madera
  • Tiempo de entrega
    Caso por caso
  • Condiciones de pago
    T/T
  • Capacidad de la fuente
    Caso por caso

Equipo de prueba óptica ZEIT Lámpara Reflector Forma Oblea Planitud Superficie Detección de defectos

Equipo superficial de gran tamaño ligero estructural de la detección de la forma

 

 

Usos

Detección de la forma del reflector de la lámpara; detección de la llanura de la oblea; detección de la superficie de la pintura del coche; detección de la forma de la superficie de la lente.

 

Principio de funcionamiento

La exhibición proyecta la luz estructurada en forma de la raya, y la cámara recoge la luz estructurada del medido

la superficie, la raya recogida se deforma con la modulación de la superficie medida, la distribución de la nube del punto

y la distribución de la curvatura de la superficie medida se calcula según la deformación de la raya, después

la distribución de error superficial de la forma puede ser obtenida comparando la distribución de la nube del punto con el modelo ideal.

 

Características

     Modelo     SI200-150
     Gama de medición     200×150mm2
     Resolución transversal      0.25m m convencionales, ajustable
     Precisión de medición      Error absoluto: ±3μm (100m m en diámetro)
Nota: Producción modificada para requisitos particulares disponible.

                                                                                                             

Imagen de la detección

Equipo de prueba óptica ZEIT Lámpara Reflector Forma Oblea Planitud Superficie Detección de defectos 0

 

Nuestras ventajas

Somos fabricante.

Proceso maduro.

Contestación en el plazo de 24 horas de trabajo.

 

Nuestra certificación del ISO

Equipo de prueba óptica ZEIT Lámpara Reflector Forma Oblea Planitud Superficie Detección de defectos 1

 

 

Partes de nuestras patentes

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Partes de nuestros premios y calificaciones del R&D

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